您好，歡迎訪問硅儀科技！??
銷售熱線：136-5192-3355
商品描述
賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀可進行全自動、高通量的表面分析，提供用于推進研發或解決生產問題的數據。 集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜，讓您進行真正的聯用分析。
標準化性能：
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術聯合
·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展
·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
·用于儀器控制、數據處理和報告生產的 Avantage 軟件
·小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行
·ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質量分辨可分析一些同位素豐度信息。
·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結構信息以及材料表面功函數信息
·拉曼：拉曼光譜技術用于提供分子結構層面的指紋信息
·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結構和帶隙信息
掃一掃 了解更多
產品專區?????
科技服務??
技術支持?
聯系我們???
客服中心：400-886-1225
座機：021-66875565
手機：13651923355
郵箱：lei@guiyisci.com
地址：上海市寶山區羅寧路1288弄25號502室